SSD 流式读取 n-gram 表会损耗寿命：读扰动与读回收机制解析

从 SSD 持续流式读取 n-gram 表会因读扰动造成实际磨损，并通过主控搬页转化为写入。论文实测某 word line 被读取 5.4 万次后，相邻两个 word line 触及 ECC 极限，数据将不可逆丢失；均衡读取可延至 51.8 万次。可在纯读期间观察 SMART 的 data units written / LBAs written 变化，但影响程度仍取决于 SSD 与访问模式。